CSI是一家法国科学设备制造商，拥有专业的AFM设计概念，以及为现有的AFM提供设计选项。它避免了激光对准需要预先定位针尖的系统，针尖/样品的顶部和侧视图，结合垂直的马达控制系统，使预先趋近更加容易，通过光学视窗和X-Y样品平移台相结合使得样品定位简单，为研究型实验室或工厂提供解决方案。

    基本技术特点

1）控制器规格

   XY扫描范围  100 μm（±10%），Z轴扫描范围9μm （±10%），XY驱动分辨率24位控制-0.06Åm

   数据采样点高达4096

2）预先配置的模式

   不需要增加额外的模块就能实现所有需要的测量，通过简单地选择AFM模式，软件驱动和连接到相应的电子设备不会产生错误。通过一个简单的点击，你可以在所有的AFM模式之间切，

3）柔性材料电学测试ResiScope

   柔性ResiScope原理是基于间歇接触，样品的摩擦礼盒针尖的恒定力提供定量的测量，不损坏精细样品的表面。

4）高清KFM模式

   除了标准的KFM模式， Nano-Observer还能提供一种高清KFM模式，较为大提高了分辨率，并提高了表面电位的测量灵敏度，

5）Nano-Observer环境控制

   设计提供了环境控制模块（气体，湿度，温度），为提高电器测量性能或者保护样品免受氧化     

    应用

普通样品/生物样品表面形貌

多模块配置测量（PFM/KFM/EAFM/CAFM等）

通过ResiScope^TM模式扫描（超过10个数量级的电流，电阻）。