P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
测量几纳米到1200µm的2D和3D台阶高度、粗糙度、应力测量。
测量几纳米到1000um的台阶高度、粗糙度、应力。
测量几纳米到1200µm的2D和3D台阶高度、粗糙度、应力测量。
P-17支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,扫描达200mm,无需图像拼接测量。
P-170结合P-17和HRP®-260的机械传送臂,提供低拥有成本,适用于半导体,化合物半导体和相...