采用激光扫描技术的off-line型光学表面缺陷检测与分类系统。
采用采用PEM相位调制技术,在142-2100 nm范围内,可对薄膜、液体等材料的薄膜厚度和光学常数...
10nm以下空间分辨可见-红外-拉曼成像与光谱采集
P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
采用光谱反射技术实现nm到mm级薄膜厚度测量的单点光学膜厚测试系统。
LiteScope™将扫描探针显微镜集成到电子显微镜中,将互补的SPM技术和扫描电镜技术相结合(CP...
NX10是易于使用的研究型原子力显微镜,0.03nm高精度
SPRm200 基于细胞、细菌、病毒载体用于药物等分子互作分析
随时随地,纳米级三维结构的量测,表面粗糙度,膜厚、台阶、相位测试。