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等离子设备

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      7. 扫描热学显微镜
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      9. AFM In-SEM
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      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
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      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
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      1. 单点厚度测量
      2. 微米（显微）级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
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      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
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      1. 纳米拉伸仪
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      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
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      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
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      1. 小型研发台
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      3. 半自动探针台
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      1. 示波器
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      3. 频谱分析仪
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      7. 相干光信号分析仪
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      1. 探针及配件
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      1. In-SEM原子力显微镜
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      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
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      1. 原位芯片及Holder
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      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
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      1. 被动隔震台
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      1. 样品切割
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      1. 工业/测量显微镜
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      1. 干燥箱
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      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
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      1. 氮化硅薄膜窗口
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      3. TEM耗材
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      1. GGB探针
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      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
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      4. 纳米压印胶
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