在线客服
021-64283335

首页> > 产品中心 > 原位拉伸台

      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米(显微)级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    2. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    +
    1. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    1. +
    +
原位拉伸台
品 牌 :Swift Instrument
型 号 :Swift Tensile Stage
产 地 :英国
关键词 :完全可定制原位拉伸台,拉伸&压缩测试, Flat & EBSD 定位,2kN, 5kN & 10kN加载传感选择



简介  

为了满足现代材料研究的挑战,Swift开发了一系列完全可定制的原位拉伸试样台。这些拉伸试样台适合多种显微观测系统,比如扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等。支持EBSD,样品加热和冷却,可实现原位“拉伸—剪切”、“压缩—剪切”、“单轴拉伸/压缩”、“纯剪切”及疲劳力学测试等多重测试模式,实现原位复合载荷测试薄膜及细丝力学实验。

Swift原位拉伸试样台也可立使用测定材料力学参数;同时由于结构紧凑微小、充分考虑了真空兼容性和电磁兼容性,因此可实现与金相显微镜、扫描电镜、拉曼光谱仪、X射线衍射仪、原子力显微镜等显微成像设备的兼容,所采用的超低速准静态加载方式有利于在成像仪器下对载荷作用下材料细微的变形损伤变化状况进行连续的可视化原位监测,便于系统深入的研究揭示载荷作用、材料变形损伤机制与微观结构变化间的规律。


应用

Swift拉伸试验台是通用的,能够在各种材料上进行各种机械测试。在静态或动态条件下观察材料表面纳米级微观形态和结构变化。通过实时获取的载荷,形变和温度等数据,并结合扫描电子显微镜提供的材料微观结构分析数据,实现了定量分析材料微观力学性质,相变行为,取向变化,裂纹萌生和扩展,材料疲劳和断裂机制,材料弯曲机制,高温蠕变性,分层,形成滑移面以及脱落等现象。

- 半导体器件,薄膜

- 硬质涂层,电镀层

- 金属材料,陶瓷材料

- 玻璃,块体材料

- 复合材料,聚合物材料

- 电镀层,钎焊或焊接接头

- 矿物,木材

- 有机材料等等



测试方法