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20 多年高质量XUV、EUV和X射线反射镜
NTT的FZP由干法蚀刻的Ta组成。具有出色的高耐X射线辐射性、分辨率和对比度高
适用于X射线分析的分辨率评估
X-ray应用氮化硅薄膜窗口