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首页> > 产品中心 > EM-AFM 电镜原位原子力显微镜

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EM-AFM 电镜原位原子力显微镜
品 牌 ：Toronto Nano Instrumentation
型 号 ：EM-AFM
产 地 ：加拿大
关键词 ：AFM,原位,SEM,压阻
产品手册下载

    EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点，可高速获得高分辨率的三维图像，并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用，与常规SEM/FIB兼容，并与EDS, EBSD, WSD兼容。

   


  主要功能

EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点，可进行形貌扫描、3D成像、纳米压痕/纳米拉伸测试等。

l  技术特点

同时获得AFM和SEM成像

与主流扫描电镜完全兼容

样品更换简单

高分辨率形貌扫描

用纳米压痕法测量纳米力

操作稳定性高，不受SEM电子束干扰

真空载锁兼容

  技术能力


三、应用




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