WinSPM EDU 系统荣获“全国教学仪器设备评比较好奖”,该奖项由国家教育装备委员会颁发,表彰其在纳米教育实验系统方面的创新设计、稳定性能和在全国高校广泛应用中的突出表现.
WinSPM EDU是专为高校纳米科技教学设计的扫描探针显微镜系统,集成多种成像模式,支持多种探针类型,搭载智能控制软件平台,广泛用于教学实验、课程开发与科研训练。
产品优势
· 无需激光调节,操作简便,安全性高
· 兼容压电自感知探针,实现力曲线与纳米压痕分析
· 小体积集成设计,便于教学实验部署
· 支持原子级分辨率,适合高等教育与科研训练
· 功能覆盖科研与教学多任务场景
·模块化设计,升级空间大,维护成本低

技术规格
· 支持接触模式、轻敲模式、相位成像、频率调制成像等多种扫描模式;
· 较大扫描范围:20×20×3μm³, 较小分辨率优于0.1 nm;
· 平台支持样品较大尺寸:直径20 mm, 厚 度 ≤ 5 mm;
· 探针支持:自感知压电探针/激光调频探针;
·扫描控制器支持闭环反馈与图像拼接功能;
· 兼容光学模块与视频接口,支持在线监控;
· 软件平台支持:图像分析、高度统计、截面测量、3D 渲染等;
·硬件接口丰富,预留升级通道,兼容STEM 课程集成。
典型应用领域
·半导体工艺教学与失效分析
· 材料科学研究
· 光电器件表征
· 表面工程与粗糙度分析
· 微纳加工课程支持
· 高等院校与科研机构通识纳米实验平台
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