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首页> > 产品中心 > 晶圆翘曲应力测量仪

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晶圆翘曲应力测量仪
品 牌 ：SHNTI
型 号 ：SM
产 地 ：中国
关键词 ：晶圆 薄膜应力 翘曲 半导体
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Stress Mapper 晶圆翘曲应力测量仪

具备三维翘曲（平整度）及薄膜应力的检测功能，适用于半导体晶圆生产、半导体制程工艺开发、玻璃及陶瓷晶圆生产