在线客服
021-64283335

首页> > 产品中心 > Desktop Pro薄膜沉积-磁控溅射

    1. +
      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米（显微）级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    7. +
    8. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    5. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    4. +
    5. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    11. +
    12. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    5. +
    +
Desktop Pro薄膜沉积-磁控溅射
品 牌 ：Denton Vacuum
型 号 ：Desktop Pro
产 地 ：英国
关键词 ：薄膜沉积 磁控溅射
产品手册下载
如果实验室空间是您关心的问题，紧凑、高真空Desktop Pro溅射系统生产能力大，而占用的桌面空间不到36英寸(914mm)。Desktop Pro可以提供共聚焦溅射以及磁性和/或介电材料的沉积。

Desktop Pro以共焦结构支持一个或两个阴较为，在4英寸直径上提供高薄膜均匀性。其能够在不到30分钟的时间内抽气至高真空(10-6托范围)，这是需要快速转换的多用户环境中完美解决方案。



用途：

溅射  材料研究   产品质量控制和质量保证   

半导体故障分析  纳米技术  化合物半导体


优势：

这一直流和射频溅射系统将提高您的研究生产力，提供一致、可重复的性能，同时，可大幅节约测试环境的空间。