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首页> > 产品中心 > TEM耗材

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      1. 便携式AFM
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      1. D系列台阶仪
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      1. 单点厚度测量
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      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
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      1. 原位拉伸台
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      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
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      1. 示波器
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      1. In-SEM原子力显微镜
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      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
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      1. 原位芯片及Holder
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      1. 电镜样品清洗机
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TEM耗材
品 牌 ：复合
型 号 ：多种
产 地 ：瑞士
关键词 ：SPI,Ted pella,EMS,载网,支持膜,标准样品
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多孔载网：

方孔、六边形载网，50-2000目，材料有铜、镍、钼、金等



特型载网：

坐标载网/平行载网/单孔载网

Cu/Au/Mo/Ti/Ni多种材料


FIB载网

FIB Lift-Out聚焦离子束半分载网,Cu/Mo/Be/Si,0/1/2/3/4/5posts


碳支持膜

碳支持膜/纯碳支持膜/无碳支持膜/微栅支持膜/纯碳微栅支持膜

Cu/Au/Ni

50-400目


C-Flat多孔纯碳支持膜/Quantifoil/UltraFoil超薄多孔金膜


TEM标准样品

500nm放大倍率标样,十字衍射光栅复制品(乳胶球),2000l/mm,3mm网格

Pelcotec™ CDMS-0.1C/1C,特征尺寸放大倍率标样,2mm-100nm/2mm-1μm,已认证/可溯源证书

TEM测试样品：碳膜/蒸发Pt/Ir/组合测试样品/蒸发Al膜/Cu箔/金颗粒/石墨/碳

TEM分辨率标样：过氧化氢酶、溅射金、金膜乳胶颗粒、碳膜金颗粒、碳化硼

分析标准样品，UICC，青石棉散装石棉



切片

Diatome钻石刀，半薄、超薄、冷冻、常温切片