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中科院合肥物质院强磁场中心 AFM in SEM Seminar

2019年12月06日

    20191128-29SHNTI联合NenoVision在中科院合肥物质院强磁场中心举办了主题为“LiteScope™: In-situ AFM in SEM-correlative Probe and Electron Microscopy(CPEM) ”的技术讲座,并由来自捷克的NenoVision技术专家给强磁场中心、固体物理所、合肥工大等20余位老师和学生提供了设备展示及免费测样机会。

    

    AFM in SEM技术一种新型的表征联用技术, LiteScope™独特的探针和扫描电子显微镜技术(CPEM),完美地实现以下功能:表面3D表征、原位形貌及对比、材料表面粗糙度及力学分析、金属材料元素分析、表面增强拉曼、生物细胞研究、针尖定位样品、FIB加工及缺陷检测等相关测试。


 
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