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NanoFlip纳米压痕仪可以提供您的材料研究实验室带来无限的便捷。 高性能多功能性是NanoFlip设计的标志,当需要进行成像集成,需要进行频繁的转换和广泛的样本控制时,无论是环境测量还是原位测试,无论有无真空,都能提供同样出色的结果。


革命性的Fib2Test技术允许用户将样品倾斜90度,以便在双光束SEM内从FIB无缝过渡到压痕测试,而无需移除样品。


设计为完全真空兼容,并且具有独特的样品触发功能,NanoFlip非常适用于现场环境,如SEM,FIB和真空室,或者当您的实验带您迁移时,可以在任何情况下工作 可以想象的成像系统,如AFM,光学显微镜和光学Pro测量仪,为您提供几乎无限的成像选项。


项目

规范

执行机构

 

位移测量

电容式仪表

位移范围

50um

位移分辨率

0.004nm

典型的噪音

<0.1nm

加载应用程序

线圈/磁铁

最大负载

50mN

加载分辨率

3nN

硬度计压强刚度

200N/m

阻尼系数

0.05N-s/m

共振频率

150Hz

 

 

控制器

 

数据采集速率

100kHz

CPU控制速率

 

1000Hz

时间常数

20us或更高

动态激励频率

0.1Hz-0.1kHz


电磁执行器用于Nanomechanics生产的所有系统,包括NanoFlip。 这些执行器是坚固的线性装置,固有地解耦力和位移。 它们的最大力为50 mN,分辨率为3 nN,超低噪声电流小于200 nN。

NanoFlip的时间常数为20微秒,是唯一同时符合规格的商用纳米压痕仪,最大压痕行程为50μm,噪声<0.1nm,数字分辨率为0.004 nm,漂移率为< 0.05nm/s。

为了确保业内最广泛,最可靠的数据,NanoFlip能够实现0.1 Hz至1 kHz的动态激励频率。

样品台移动,Z轴为25 mm,X为21 mm,Y轴为21 mm,分辨率为nm,可在大面积上精确定位样品。

载荷框架刚度> 7 e5N/m

独特的尖端校准系统集成到软件中,可实现快速,准确和自动的尖端校准。

可用的方法包,包含聚合物,薄膜和生物材料的提示,方法和标准

用划痕选项,最大正常载荷为50 mN,最大划痕距离为2.5 mm,最大划痕速度为500μm/ s。

可选的NanoBlitz地形和层析成像软件,用于材料的3D和4D映射。




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