型号:

 


窗体底端

窗体顶端

 窗体顶端

低放大倍率校准标准(SEMLM

 

型号 

标样名称 

标样介绍 

 

SHNTI-SS01 

单晶硅标样 Silicon Test Specimen 

面积:5mm*5mm;   
周期:10um;线宽:1.9um;
深度:200nm,每隔500um有分割线用于LM 

 

SHNTI-SS10 

SHNTI-SS12 

SHNTI-SS20 

SHNTI-SS30 

·unmounted, mounted(12.5mm Pin Stub), 证书 

窗体底端

窗体顶端

  窗体顶端

扫描电镜的分辨率和灰度测试标本

 

型号 

标样名称 

标样介绍 

标样图片 

79510-01 

高分辨率碳基底金标样
High Resolution Gold on Carbon Test 

粒径:5nm-150nm 

·12.5mm Pin Stub 

·JEOL/ISI/Hitachi Stub 

·Carbon Planchet 

79510-02 

79510-03 

79510-04 

79510-05 

79511-01 

较高分辨率碳基底金标样
Very High Resolution Gold (<2nn - 30nm) on Carbon Test 


粒径:2nm-30nm
理想仪器放大50000倍以上 

·12.5mm Pin Stub 

·JEOL/ISI/Hitachi Stub 

·Carbon Planchet 

79511-02 

79511-03 

79511-04 

79511-05 

79512-01 

超高分辨率碳基底金标样
Ultra High Resolution Gold (<1 nm - 20 nm) on Carbon Test 

粒径:1nm-20nm
至少放大8000倍 

·12.5mm Pin Stub 

·JEOL/ISI/Hitachi Stub 

·Carbon Planchet 

79512-02 

79512-03 

79512-04 

79512-05 

79514-01 

中等分辨率--钨树突
Medium Resolution - Aluminum-Tungsten Dendrites 

非磁性,真空清洁,工作在
25-75海里的探针尺寸范围最佳 

79515-01 

 碳基底锡球标样
Tin On Carbon 

由尺寸范围在10-40nm分散的
锡球组成 

·12.5mm Pin Stub 

·JEOL/ISI/Hitachi Stub 

79515-02 

79515-03 

79515-04 

窗体底端

窗体顶端

  

窗体顶端

窗体底端

反向散射电子检测系统和EDS的参考样品

 

79520-01 

Reference 
Standards
BSE元素
分辨标样 

参考样品原子数相差1的高纯度元素组成,样品安装在直径5nm的块上 

79520-02 

79520-03 

79521-01 

Duplex Specimen
双元高灵敏元素分辨标样 

该标样是两种不同平均分子量的
Zn/Cu合金,平均分子量像差
0.1.图中亮区域为29.47的铜锌合金相,暗区域为29.37的合金相 

80058-ST 

X-Checker?
X射线能谱检测标 

该产品适用于SEM/EDS系统中X射线能谱相关指标参数的检测 

80058-BN 

80058-EX 

·BSE: Nickel (Z=28)/Copper (Z=29), Palladium (Z=46)/Silver (z=47),Platinum (Z=78)/Gold (Z=79) 

·X-Checker?Standard/With Boron Nitride/ Extra 

窗体顶端

  

 

 

 

 

 

 

透射电子显微镜校准标样与STEM

窗体顶端

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