在线客服
021-64283335

首页> > 产品中心 > 膜厚测量仪

      1. 便携式AFM
      2. 小样品AFM
      3. 大样品AFM
      4. 全自动AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光诱导力显微镜IR/SNOM/TERS
      7. 扫描热学显微镜
      8. 扫描微波阻抗显微镜
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列台阶仪
      2. P系列台阶仪
      +
      1. Zeta系列光学轮廓仪
      2. 白光干涉仪
      +
      1. 单点厚度测量
      2. 微米(显微)级光斑尺度厚度测量
      3. 自动厚度测量系统
      4. 在线厚度测量系统
      5. 椭偏仪
      6. 棱镜耦合仪
      +
      1. 表面等离子共振显微镜
      2. 表面等离子共振仪
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
      1. 纳米拉伸仪
      +
      1. 原位TEM四自由度纳米操纵样品杆
      +
      1. 原位拉伸台
      2. In-SEM纳米操作机
      3. In-SEM纳米压痕
      +
    2. +
    +
    1. +
      1. 小型研发台
      2. 手动探针台
      3. 半自动探针台
      +
      1. 示波器
      2. 矢量网络分析仪
      3. 频谱分析仪
      4. 功率分析仪
      5. 参数分析仪
      6. 误码率测试仪
      7. 相干光信号分析仪
      8. 频率计数器
      +
      1. 探针及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力显微镜
      +
      1. In-SEM纳米压痕
      2. In-SEM 纳米操作机
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    +
    1. +
      1. 电镜样品清洗机
      2. 等离子清洗机
      3. 紫外臭氧清洗机
      +
      1. 被动隔震台
      2. 主动隔震台
      +
      1. 样品切割
      2. 镶嵌
      3. 研磨抛光
      +
      1. 工业/测量显微镜
      2. 视频显微镜
      3. 金相显微镜
      4. 偏光显微镜
      5. 立体/体视显微镜
      6. USB显微镜
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮气柜
      +
    +
      1. AFM探针
      2. AFM标样基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔载网
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探针
      +
      1. 光栅模板
      2. 点阵模板
      3. 孔状模板
      4. 纳米压印胶
      +
    1. +
    +
膜厚测量仪
品 牌 :KLA Instruments
型 号 :F10-RT
产 地 :美国
关键词 :膜厚仪、薄膜厚度、同时测量反射和透射

KLA的Filmetrics系列利用光谱反射技术实现薄膜厚度的精确测量,其测量范围从nm-mm,可实现如光刻胶、氧化物、硅或者其他半导体膜、有机薄膜、导电透明薄膜等膜厚精确测量,被广泛应用于半导体、微电子、生物医学等领域。Filmetrics具有F10-HC、F20、F32、F40、F50、F60-t等多款产品,可测量从几mm到450mm大小的样品,薄膜厚度测量范围1nm到mm级。Filmetrics F10-RT以真空镀膜为设计目标,只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 不需要费时改变硬件配置,F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外,Filmetrics 专用的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。


一、 主要功能

主要应用

同步测量薄膜的反射率和穿透率

Ÿ   空间色彩系统的色彩分析

Ÿ   多层薄膜分析能力

Ÿ   膜厚和参数解算模块

技术能力

光谱波长范围:380-1050 nm

厚度测量范围:15nm-70μm

测量n&k小厚度:100 nm

准确度:取较大值,2nm或0.4%

精度:0.1nm

稳定性:0.07nm

光斑大小:6mm

二、 应用

半导体制造:光刻胶、氧化物、氮化物

液晶显示器:液晶间隙、聚酰亚胺保护膜、纳米铟锡金属氧化物

生物医疗原件:聚合物/聚对二甲苯涂层、生物膜/气泡球厚度、药物涂层支架

微机电系统:硅膜、氮化铝/氧化锌薄膜滤镜

光学镀膜:硬镀膜、增透镀膜、Filters滤光